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エンベデッドシステム

平成３０年　第4問 エンベデッドシステム

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平成３０年　第4問 エンベデッドシステム


  • JTAG (IEEE1149.1) の説明として, 適切なものはどれか。


    ア 組合せ回路のテスト生成方式

    イ テストプローブを用いた導通テストの方法

    ウ バウンダリスキャンテストの標準方式

    エ ビルトインセルフテストの方式



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